双变频介质损耗测试仪产品型号：JFD-8006 F（增加：CVT变比+极性+相位差）、JFD-8007 G（老款增加：四通道+CVT）、JFD-8007 G（新款四通道+CVT变比+极性+相位差）

双变频抗干扰介质损耗测试仪嘉梵德 产品型号：JFD-8006 F（增加：CVT变比+极性+相位差）、JFD-8007 G（老款增加：四通道+CVT）、JFD-8007 G（新款四通道+CVT变比+极性+相位差）

双变频介质损耗测试仪是一种用于检测材料介电常数和介质损耗角正切的仪器。它是基于微波信号经过测试样品时，样品吸收一定量的能量而导致信号衰减的原理工作的。一般基于微波传输法。

抗干扰介质损耗测试仪主要用于测量介质的损耗和介电常数等参数。它通过引入一些特殊的设计，以提高仪器的抗干扰能力，使得在恶劣工作环境下，仍然可以获得可靠的测试结果。包括基本测试装置、微波源、直流源、功率计和计算机控制系统等主要组成部分。其中基本测试装置由两个反射器、微波天线和被测试介质构成，该装置可实现对介质的反射和透射系数的测量。

双变频介质损耗测试仪(Double Frequency Dielectric Loss Tester)是一种用于测量电介质材料中介电损耗(即介质的能量损耗)的测试设备。其测量原理主要基于双变频法，即在高频和低频间切换，根据不同的工作模式下，观察电源和被测试物之间所发生的相位差变化。 在高频模式下，器件会将高频信号作为发送端，通过被测试介质进行传输。由于介质本身的电阻和电容性质，部分电能会被转化为热量、辐射出去或声学效应产生。经过此过程后，接收端会记录到两个信号的相位差，从而得出了电介质的损耗值。

双变频介质损耗测试仪又称为介电常数测试仪，是用于测量介质材料在微波和毫米波频段中的介电常数和损耗因子的仪器。其主要由发射端口、接收端口、传输线、样品室等组成。可以测量任何形式的介质材料，如固体、液体或气体等，通过测试介质材料的介电常数和损耗因子，确定该材料在微波频段中的电学性能。这些性能包括介电常数、损耗因子、回流损耗等，都对材料的稳定性、可靠性和寿命有着重要的影响。